Advances in X-Ray Analysis / Nejlevnější knihy
Advances in X-Ray Analysis

Kód: 05185537

Advances in X-Ray Analysis

Autor John B. Newkirk, Gavin R. Mallett

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the concl ... celý popis

1540


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-16 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Advances in X-Ray Analysis

Nákupem získáte 154 bodů

Anotace knihy

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Chemistry Physical chemistry

1540

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: