Kód: 13786420
This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stocha ... celý popis
Nákupem získáte 294 bodů
This book provides a reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies. It introduces a new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior.
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering
2935 Kč
Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších
Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Nákupní košík ( prázdný )