Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 277 bodů

Anotace knihy

From materials science to integrated circuit development, technology is moving from the microscale toward the nanoscale. As technology grows tinier, there is new emphasis on understanding the effects of surfaces and near-surfaces on the properties of materials at the nanoscale. This book reviews the fundamental physics underlying innovative techniques for analyzing these surfaces and near-surfaces.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Nanotechnology

• Plný název: Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
• Autor: Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 336
• EAN: 9781441939807
• ISBN: 1441939806
• ID: 01422518
• Nakladatelství: Springer, Berlin
• Hmotnost: 533 g
• Rozměry: 235 × 155 × 18 mm
• Rok vydání: 2010

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---