Kód: 02403965
This book examines the investigation and intentional control of metal/oxide interface structure and electrical properties with the data obtained using non-destructive methods such as x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and x-ra ... celý popis
1540 Kč
Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.
Nákupem získáte 154 bodů
This book examines the investigation and intentional control of metal/oxide interface structure and electrical properties with the data obtained using non-destructive methods such as x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and x-ray reflectometry (XRR).
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Nanotechnology
1540 Kč
Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších
Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Nákupní košík ( prázdný )