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En este trabajo se presenta la caracterización microestructural mediante espectroscopia Raman de películas de ZnO intrínseco, dopado con aluminio y co- dopado con aluminio y nitrógeno. Las películas se depositaron usando la técnica de erosión catódica sobre substratos de silicio y vidrio a diferentes temperaturas, variando la concentración de aluminio y la velocidad de flujo de nitrógeno. El análisis de las señales Raman permitió identificar los modos vibracionales del enlace entre el zinc y el oxígeno, y de esta manera diferenciarlos de los modos vibracionales provenientes de la sustitución de zinc por aluminio como resultado de la incorporación de este último (AlZn) y de los producidos por el desplazamiento de los átomos de oxígeno por los de nitrógeno, debido a la difusión de este gas sobre la superficie de las películas (NO). Asimismo, se identificaron otras señales Raman atribuidas a defectos cristalinos debidos a la presencia de Zinc intersticial (Zni).

Parametry knihy

• Plný název: Nanotecnologia, Espectroscopia Raman
• Autor: Jesus Alberto Hernandez Mendez
• Jazyk: Španělština
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 84
• EAN: 9786202129466
• ID: 19455775
• Nakladatelství: Editorial Academica Espanola
• Hmotnost: 136 g
• Rozměry: 229 × 152 × 5 mm
• Datum vydání: 19. April 2018

Oblíbené z jiného soudku

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